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華嘉在滬舉辦顆粒表征技術研討會

2008-04-22

      2008年4月15日，在南昌路59號上海科學會堂思南樓901會議廳，由上海市顆粒學會和瑞士華嘉公司共同舉辦的“顆粒表征技術研討會"，座無虛席，取得了圓滿成功。
        
        此次研討會首先由上海市顆粒學會理事長、上海理工大學動力工程學院的蔡小舒詳盡介紹了現代顆粒分析技術進展。
        
        然后，瑞士華嘉公司產品專家魏延喜講述了Microtrac S3500 激光粒度分析技術（Bluewave激光技術）、Nanotrac系列納米粒度及Zetatrac型ξ電位分析技術、AnaTec動態顆粒圖像分析技術、ParticleMetrix流動電流電勢等。魏延喜說：“華嘉公司作為專業的外貿代理機構，愿為中國的廣大用戶和先進的歐美分析技術廠商之間架設交流平臺，提供及時周到的服務。"其代理的產品之一，美國麥奇克（Microtrac ）有限公司先進的激光粒度分析儀在進入中國僅三年時間，就售出了近200臺，并贏得了良好的市場聲譽。
        

瑞士華嘉魏延喜在研討會上發言

        下午的時間，產品王磊介紹了一些研究表界面化學的技術和相關儀器，期間他為大家展示了德國克呂士公司（Kruss）主打的K100型全自動表面張力儀等儀器，正是憑借這款儀器和DSA100接觸角測量儀的性能，Kruss公司定義了測量液體和固體表面能的標準。
        
        會后，相關專家進行了各種粒度分析儀及表面分析儀的現場操作，反響熱烈。